Эволюция в микро XRF! Комбинация высокой чувствительности и новой технологии визуализации обеспечивающий скоростной анализ неоднородных материалов
◉ Простая операция анализа без необходимости подготовки.
◉ Неразрушающий контроль.
◉ Быстрый доступ благодаря высокоточному оптическому наблюдению даже в микроскопическом диапазоне
◉ В комплекте с программным обеспечением для анализа изображений.
Определяемые элементы | От Na до U |
Максимальный размер образца ［Ш x Д x В］ | 300 x 250 x 40 мм |
Диапазон перемещения столика ［Ш x Д x В］ | 100 x 200 x 20 мм |
Картирование | |
Картируемая область | 100 x 100 мм (max) |
Прочее | |
Зона вакуумирования | Полностью аналитическая камера /только оптическая система |