СЭМ Prisma E — высокопроизводительный прибор, созданный для решения задач академических и промышленных лабораторий, когда первостепенное значение имеет простота использования и все возможности системы должны быть доступны для операторов любого уровня подготовки. Микроскоп имеет тетродную электронную пушку с термоэмиссионным вольфрамовым катодом, обеспечивающую разрешение до 3 нм. Высокая разрешающая способность сочетается с прекрасным контрастом изображения благодаря наличию современных сверхчувствительных детекторов. Три вакуумных режима — высокий, низкий и режим естественной среды (ESEM) — позволяют анализировать практически любые образцы, в том числе жирные, влажные, газящие и непроводящие, без какой-либо пробоподготовки. Уникальное сочетание доступного универсального прибора с широким набором детекторов и опций делает Prisma E идеальным решением для исследований в любой области науки и производства.


  • SKU: EL023612
  • Цена: 


Подробнее


Основные преимущества:

  • исследование материалов in-situ в их естественном состоянии;
  • низкий вакуум и режим ESEM позволяют получать изображения непроводящих, влажных, жирных и газящих образцов;
  • динамические эксперименты в точке росы (влажность 100 %) и при температурах от -165° С до +1400° С.
Тип микроскопаСканирующий
Область примененияМатериаловедение
Направление деятельности2D-анализ
Объекты интереса101 нм – 100 мкм
Характеристики электронной пушки
Тип катодаТермоэмиссионный (вольфрамовый)
Максимальное разрешение (SE), нм3
Диапазон ускоряющего напряжения, В200–30 000
Минимальная энергия приземления электронов, эВ20
Максимальный ток зонда, нА2 000
Предметный столик
Тип столика
Мультифункциональный на 18 держателей 12 ммОпция
На 18 держателей 12 ммНаличие
На 7 держателей 12 ммНет
ПьезоНет
МеханическийНаличие
Максимальный вес образца, г500
Максимальный размер образца, Ø мм122
Ход по осям X и Y, мм110 × 110
Воспроизводимость по осям X и Y, мкм< 3,0
Ход по оси Z, мм65
Поворот, град.360
Наклон, град.-15 / +90
Ширина камеры, мм340
Количество портов для установки дополнительных детекторов, шт.)12
Детекторы
Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (ETD)Наличие
ИК-камера для наблюдения положения образца в камереНаличие
Навигационная камера высокого разрешения Nav-Cam+™Опция
Интегрированная система измерения тока лучаОпция
Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD)Наличие
Газовый детектор вторичных электронов для режима ESEMНаличие
T1 – нижний внутрилинзовый детекторНет
T2 – верхний внутрилинзовый детекторНет
T3 – внутриколонный детекторНет
Внутрилинзовый детектор Elstar SE/BSE (TLD-SE, TLD-BSE)Нет
Внутриколонный детектор Elstar SE/BSE (ICD)Опция
Внутриколонный детектор Elstar BSE (MD)Нет
Детектор направленных обратно-отраженных электронов (DBS)Опция
Газовый аналитический детектор обратно-отраженных электронов DBS-GADНет
Аналитический ESEM-детектор DBS-ESEMНет
Детектор прошедших электронов STEM 3+Опция
Детектор для катодолюминесценции (CL)Опция
Детектор RamanОпция
EDSОпция
EBSD/WDSОпция
Режимы вакуума:
Высокий вакуум, Па< 6,0 × 10 ⁻ ⁴
Низкий вакуум, Па200
Режим естественной среды (влажность 100 %), Па4 000
Безмасляная вакуумная системаОпция
Дополнительное оборудование:
Пакет Wet-STEMОпция
Криоочистка камерыОпция
Плазменная очистка камерыОпция
ЛитографияОпция
Крио-СЭМОпция
ГИСОпция
МанипуляторОпция
Зондовые станцииОпция
Панель управления микроскопомОпция
Джойстик для управления столикомОпция
Столик для охлажденияОпция
Столик для нагреваОпция
Столик для растяжения/сжатияОпция
Вакуумный шлюзОпция
Функция замедления пучкаОпция
Программное обеспечение:
MAPS™Наличие
MAPS™ + correlative workОпция
AutoTEMНет
Auto Slice&ViewНет
ColorSEM TechnologyОпция
FLASHОпция
SmartAlign TechnologyОпция
Pattern generation softwareОпция
AutoScript 4, Python-based Application Programming Interface (API)Опция
TopoMaps for image colorization, image analysis and 3D surface reconstructionОпция
Remote controlОпция
Web-enabled data archiveОпция
Тип
Электронные