Schottky electron microscope

SU7000 разработан для решения этих и других аспектов, предоставляя расширенную информацию для разнообразных потребностей в области электронной микроскопии. 

1. Универсальные возможности визуализации
   SU7000 отличается быстрым сбором множественных сигналов для удовлетворения обширных потребностей SEM, от получения изображений в широком поле зрения до визуализации субнанометровых структур и всего, что между ними.
    Использование недавно разработанной электронной оптики и систем обнаружения позволяет эффективно одновременно регистрировать множественные вторичные электроны и сигналы обратно рассеянных электронов.
2. Многоканальная визуализация
   Количество детекторов, установленных на SEM, постоянно увеличивается, а также необходимо эффективно отображать всю собранную информацию.
    SU7000 может обрабатывать, отображать и сохранять до 6 сигналов одновременно, чтобы максимально увеличить объем сбора информации.

Расширенный сбор информации

Усовершенствованная система обнаружения SU7000 упрощает сбор структурной, топографической, композиционной, кристаллографической и других типов информации за счет минимизации изменений условий работы микроскопа, таких как рабочее расстояние или ускоряющее напряжение.