Современный FE-SEM требует не только высокой производительности, но и множества функций, включая наблюдение на большой площади, анализ на месте, переменное давление, визуализацию с высоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях и одновременный сбор нескольких сигналов.
SU7000 разработан для решения этих и других аспектов, предоставляя расширенную информацию для разнообразных потребностей в области электронной микроскопии.
Усовершенствованная система обнаружения SU7000 упрощает сбор структурной, топографической, композиционной, кристаллографической и других типов информации за счет минимизации изменений условий работы микроскопа, таких как рабочее расстояние или ускоряющее напряжение.