Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений с высоким разрешением при небольшом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология пистолета CFE обеспечивает идеальный FE-SEM с превосходной яркостью и стабильностью луча, обеспечивая получение изображений с высоким разрешением и высококачественный элементный анализ. Уникальный дизайн объектива имеет возможность EELS и дифракции.
SU9000 - это новый SEM премиум-класса. Он оснащен уникальной электронной оптикой, в которой образец располагается внутри зазора между верхней и нижней частями полюсного наконечника линзы объектива. Эта так называемая концепция истинных линз - в сочетании со следующим поколением технологии эмиссии холодного поля - гарантирует максимально возможное разрешение системы (разрешение SE 0,4 нм при 30 кВ, 1,2 нм при 1 кВ без использования технологии замедления луча [0,8 нм с замедлением луча]) и устойчивости.