Spectra 300 — универсальное решение для характеризации материалов на субатомарном уровне с ультрасверхвысоким разрешением. Сочетание объектива с большим расстоянием между полюсными наконечниками, превосходной оптики и аналитики дает возможность проведения динамических экспериментов in-situ и высокоразрешающей 3D-ЭДС-томографии без необходимости использования нестандартных держателей. Усовершенствованный корректор астигматизма (A5) зонда (S-CORR) обеспечивает высочайшие характеристики по разрешению в СПЭМ - 50 пм при 300 кВ, 96 пм при 60 кВ. Монохроматор X-FEG UltiMono позволяет работать на уровне сверхвысокого энергетического разрешения < 0,025 эВ. Передовое оборудование и мощное ПО позволяют использовать специальные методы, такие как интегрированный дифференциальный фазовый контраст (iDPC). С помощью новых пакетов автоматизации OptiSTEM+ и OptiMono+ доступен полностью автоматизированный доступ к экспериментам c самым высоким разрешением в СПЭМ (< 50 пм) и с разрешением по энергиям с использованием фильтра энергетичесих потерь < 30 мэВ.
Основные преимущества:
Тип микроскопа | Просвечивающий |
Область применения | Материаловедение |
Направление деятельности | 3D-анализ |
Объекты интереса | 0,1 Ȧ – 1 Ȧ |
Характеристики электронной пушки | |
Тип катода | |
Катод типа Шоттки сверхвысокой яркости X-FEG с монохроматором UltiMono | Наличие |
Холодный автоэмиссионный катод X-CFEG | Опция |
Катод типа Шоттки | Нет |
Катод типа Шоттки повышенной яркости X-FEG | Нет |
Термоэмиссионный катод (W, LaB6) | Нет |
Диапазон ускоряющего напряжения, кВ | 30–300 |
Максимальное разрешение по линии, пм | Н/д |
Максимальное разрешение по точкам, пм | Н/д |
Максимальное разрешение в STEM, пм | ≤ 50 |
Максимальное разрешение по энергиям, эВ | от 1 до < 0,03 |
Информационный предел, пм | ≤ 60 |
Гониометр | |
Компьютеризованный 5-осевой сверхстабильный | Наличие |
Компьютеризованный 5-осевой | Нет |
Компьютеризованный 4-осевой | Нет |
Пьезо | Наличие |
Механический | Нет |
Точность перемещения, пм | 20 |
Наклон, град. | ±40 |
Держатели | |
Однонаклонный | Наличие |
Двунаклонные | Опция |
Аналитические | Опция |
Томографические | Опция |
С нагревом | Опция |
STM/AFM | Опция |
Image-корректор | Опция |
Probe-корректор | Опция |
Монохроматор | |
Mono | Наличие |
UltiMono | Опция |
Камера | Ceta 16M |
Детекторы | |
HAADF | Опция |
BF/DF | Опция |
STEM | Опция |
Imaging filter | Опция |
EELS | Опция |
EMPAD | Опция |
Gatan OneView/OneView IS | Опция |
Super-X/Dual-X EDS | Наличие |
EDS | Нет |
Falcon 4 | Нет |
Phase Plate | Нет |
Дополнительное оборудование | |
Линза Лоренца | Опция |
Пакет 4х4 STEM | Опция |
Cryobox autoloader | Нет |
Программное обеспечение | |
OptiSTEM+ | Опция |
UltiMono+ | Опция |
CEOS | Наличие |
Tip Flash | Опция |
MAPS | Опция |
TrueImage Atlas | Опция |
MicroED | Опция |
Remote access | Опция |
CrystalPack | Опция |
Low Dose Technology | Опция |
Avizo | Опция |
Amira | Нет |
Inspect 3D | Опция |
EPU | Нет |
TEM Scripting | Опция |
Align Genie | Опция |
Epsilon | Опция |